LS 13 320 XR 粒度分析仪

改进的 LS 13 320 XR 粒度分析仪可帮助您在粒度分析中发现细微的差异。

LS 13 320 XR 采用先进的 PIDS 技术*提供同类高质的粒度分布数据,可实现高分辨率测量和扩展的动态粒径测量范围。 与 LS 13 320 型号产品一样,LS 13 320 XR 粒度分析仪可提供快速,准确的结果,并帮助您简化工作流程以优化工作效率。 一些重大改进可帮助您可靠地发现可能对粒子分析数据产生巨大影响的微小差异。

  • 直接测量范围为 10 nm - 3,500μm
  • 自动突出显示通过/未通过结果,以加快质量控制
  • 升级的软件简化了标准化测量的方法创建流程
  • 新的控制标准,以充分验证仪器/模块的性能

文档和应用短文

请选择一款 LS 13 320 XR 型号

功能特点

可发现细小差异

  • 更广的粒度测量范围:10 nm - 3,500μm
  • 激光衍射加上先进的偏振光强度差散射(PIDS)技术可实现实际数据小至 10 nm 的高分辨率测量和报告
  • 单次样品测试可提供准确,可靠的多种粒径大小的检测

软件操作便捷

  • ADAPT 软件具有自动通过/失败检查功能
  • 预先配置的方法只需 3 次(或以内)点击即可提供结果
  • 专家和新手用户都能简化分析仪的操作
  • 单击选择历史数据的重叠
  • 直观的用户诊断可在采样过程中随时提醒您
  • 可为标准化测量创建简化的方法

ADAPT 软件符合 21 CFR Part 11 要求

  • 可定制的安全系统,以满足不同的需求
  • 4 个安全级别供选择
  • 高安全性配置符合 21 CFR Part 11 要求

PIDS 技术*用于直接检测 10 nm 颗粒

  • 3 个光的波长(450,600 和 900nm)用垂直和水平偏振光照射样品
  • 分析测量来自一系列角度样品的散射光
  • 每个波长的水平和垂直偏振光之间的差异可产生高分辨率粒度分布数据

产品规格明细

Light Source Diffraction: Solid-state (780 nm) PIDS: Tungsten lamp with high-quality band-pass filters (450, 600 and 900 nm)
Particle Size Analysis Range 10 nm | 3,500 µm|
Fluid Compatibility Emulsions, Suspensions, Powders
Reporting PDF, Excel
产品货号参考 B98100

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