粒度表徵分析儀
無論您的特定顆粒表徵需求是什麼，歡迎向我們諮詢實現它們的技術。我們的儀器使用的技術包括庫爾特原理，雷射衍射，光散射和偏振光強度散射（PIDS），以提供您特定應用所需的數據，包括Multisizer 4e粒度分析儀等。
*本產品僅供工業與科學研究使用，不用於臨床診斷
Multisizer 4e 庫爾特顆粒計數及粒度分析儀
- 總尺寸範圍為 0.2μm -1,600μm
- 10μm 孔徑用於微粒測量（0.2μm）
- 多個安全級別以遵從 CFR 21 第 11 部分要求
- 在較寬的粒徑分佈範圍內進行複雜的樣品分析
- 隨時都有質量保證（多個 SOM / SOP 配置和 V-check 驗證包）